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看天吃饭？各式组件稳定性测评比较

2017-12-01 14:52:35 PV兔子 　 点击量： 评论 (0)
& 9658;c-Si晶体硅和HIT组件基本上随时间稳定持续衰减。& 9658;碲化镉CdTe组件具有1-4个月的随温度影响的亚稳态波动，然后稳定持续衰减。& 9658;铜锌锡硫CIGS组件具有1-12个月无规律的亚稳态波动，然后稳定持续衰
铜锌锡硫
 
最惨淡。不同的厂家、不同的工艺、不同的安装地点，亚稳态可以从1个月持续到12个月，然后开始线性衰减。亚稳态可以给你各种“惊喜”：有性能越来越好的，有越来越差的，有时好时坏的。一般理论认为热退火和光浸润可以提升电池效率，但在现实应用场景中情况比这个复杂得多。目前都表示不太懂 ，有待研究。。。
 
非晶硅薄膜
 
光衰惨淡，但是至少是稳定的惨淡。光致衰减的Staebler–Wronski效应以及热退火的恢复作用已经研究的比较清楚了，性能指标的可预测程度比较高。
 
拉通了看，整个薄膜电池体系在第一年都有一个亚稳态的问题，而在第二年趋于稳定，进入稳定线性衰减态。
 
 
怎么规避不稳定的问题?
 
还是兔子说的，最好没有不稳定的问题，如果不可避免，就需要尽量知道模式是什么。其中亚稳态是个大问题，必须知道亚稳态以后稳定发电性能是多少。我们知道的针对薄膜的老化测试标准IEC61646是针对早期比较热门的非晶和非晶/微晶层叠薄膜电池开发的，其实对CIGS和CdTe电池并不太试用。如果需要了解稳态发电性能，就需要对衰减机理有更多的了解，从而开发出更有效的测试工序来。这方面的研究处于进行时。
 
原标题:测评：各式组件稳定性比较！！

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